成果简介：

本发明目的在于克服现有技术的不足，提供一种新型电磁电器测试系统。目前，大多测试系统都是将电磁机构特性和触头系统（电弧、电接触）特性分开测试和研究的，有一定局限性，并且，测试设备昂贵，没有实现对电磁电器的寿命预测和失效机理分析。电磁电器的电寿命预测，尤其是交流电磁电器的电寿命预测问题是电器行业的一个难点问题。这种新型电磁电器测试系统将主回路测试与电磁机构测试、电磁机构动态特性仿真相结合，进行电磁电器整体性能测试与分析，建立了基于LABVIEW软件设计的整体分析系统，具有操作简单、界面友好、使用方便直观、功能丰富、直接进行特性分析与数据存储等优点，可以直接对电磁电器进行寿命预测与失效机理分析。

专利号：ZL200910111867.3

应用领域：该测试系统可应用在电器检测机构、电器研究机构和电器生产厂家。具有良好的市场应用前景。